眾所周知，一款高品質(zhì)的電源產(chǎn)品離不開一款好性能的整流橋模塊器件。那么如果整流橋在使用中壞了，該如何檢修檢測(cè)呢？除了通過電阻測(cè)試法，還有別的方法嗎？接下來整流橋模塊廠家昆二晶教您測(cè)量整流橋的好壞的第二種方法——壓降測(cè)試法。
        壓降測(cè)試法是利用萬用表二極管檔位直接測(cè)試整流橋模塊內(nèi)部二極管芯片的方法，讀值為壓降的參考值或近似值。測(cè)試方法與電阻測(cè)試法大致類似，也是很常見的一種測(cè)量整流橋模塊好壞的方法。
        測(cè)試工具與對(duì)象：一臺(tái)萬用表與一款待判斷的整流橋模塊產(chǎn)品。
        測(cè)試條件設(shè)定：萬用表打到二極管檔位，紅筆萬用表正極，黑筆萬用表負(fù)極。

        測(cè)試方法與步驟為：紅筆接整流橋模塊負(fù)極，黑筆接整流橋模塊正極，此時(shí)測(cè)試結(jié)果為整個(gè)整流橋模塊的壓降參考值；如需分別測(cè)試每顆芯片的壓降值，則方法為黑筆接整流橋嗎，模塊正極，紅筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位；紅筆接整流橋模塊負(fù)極，黑筆分別探測(cè)兩個(gè)交流腳位，此時(shí)所測(cè)結(jié)果為內(nèi)部獨(dú)立二極管芯片的壓降參數(shù)值。
        測(cè)試結(jié)果總結(jié)：上述測(cè)試結(jié)果為該整流橋模塊內(nèi)部二極管芯片壓降的參考值，有示數(shù)說明該芯片正常，可以輔助判斷整流橋模塊通斷與好壞情況。如有非一致的情況出現(xiàn)，比如數(shù)值為1（無窮大）則說明整流橋模塊中該顆芯片已經(jīng)損壞。
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